低溫試驗箱、恒溫試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。 　　該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。

進(jìn)口智能溫濕度控制器，操作設(shè)定簡單。 　　資料及試驗條件輸入后，恒溫試驗箱控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。 　　具有P.I.D自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。 　　可選配打印機(jī)和接電腦。
低溫試驗箱技術(shù)參數(shù)
　　溫度范圍：室溫+10℃～150℃ 　　濕度范圍：85%～98％R.H 　　溫度波動度：≤±0.5℃ 　　溫度均勻度：≤2℃


低溫試驗箱是以下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)制造 　　GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件 　　GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件 　　GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件 　　GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備 　　GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法 　　GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法 　　GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則。
低溫試驗箱、恒溫試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。